本發(fā)明公開了一種多層薄膜層間粘附性能表征方法及其試樣制備方法,其包括步驟:制備檢測試樣,首先解理鍍有待測多層薄膜的晶片和未鍍膜的襯底晶片,直接獲得側壁平整光滑、無損傷的薄膜小試片和襯底小試片,隨后通過試片粘結、背面開槽等步驟完成檢測試樣的制備;利用四點彎曲法(4PB)測試薄膜層間粘附力;利用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察經過4PB測試所形成的試片截面。本發(fā)明通過優(yōu)化試樣的制備方法和四點彎曲法的測試參數(shù),大幅縮短了測試周期,提高了測試成功率以及測試結果的準確性和可重復性;而通過SEM直接觀察經過4PB測試所形成的試樣截面,可以快速地確定多層薄膜層間結合最薄弱的界面,從而為相關工藝改進指明方向。
聲明:
“多層薄膜層間粘附性能表征及其試樣制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)