本發(fā)明提供了一種失效像素檢測電路、方法和顯示裝置。所述失效像素檢測電路包括顯示控制單元和失效像素檢測單元,所述顯示控制單元與像素驅(qū)動單元連接,用于在檢測電壓寫入階段和失效像素檢測階段控制所述像素驅(qū)動單元不點亮發(fā)光元件;所述失效像素檢測單元通過失效檢測線與所述發(fā)光元件的第一極連接,用于在檢測電壓寫入階段通過失效檢測線向所述發(fā)光元件的第一極提供參考電壓,并用于在失效像素檢測階段檢測所述發(fā)光元件的第一極的電位,并根據(jù)該電位判斷該像素電路是否失效。解決現(xiàn)有技術(shù)中不能檢測由發(fā)光元件的短路引起的像素壞點的問題。
聲明:
“失效像素檢測電路、方法和顯示裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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