本發(fā)明涉及一種基于光電聯(lián)合檢測(cè)技術(shù)的電磁繼電器壽命評(píng)估方法,包括搭建繼電器控制電路獲取被測(cè)繼電器理論動(dòng)作次數(shù)和提供繼電器動(dòng)作激勵(lì)信號(hào),搭建觸點(diǎn)檢測(cè)電路獲取繼電器有效閉合次數(shù),搭建振動(dòng)檢測(cè)光路,使用光纖光柵應(yīng)變傳感器監(jiān)測(cè)繼電器動(dòng)作時(shí)的微小振動(dòng)變化判斷繼電器實(shí)際動(dòng)作次數(shù),綜合各參數(shù)對(duì)繼電器完成壽命評(píng)估及壽命影響因素推測(cè)。本發(fā)明解決了單一接觸電阻參數(shù)判斷繼電器失效的方法中存在的弊端,通過振動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)和觸點(diǎn)檢測(cè)電路對(duì)繼電器的動(dòng)作情況和觸點(diǎn)的有效閉合情況進(jìn)行同時(shí)監(jiān)測(cè),在準(zhǔn)確評(píng)估繼電器壽命的同時(shí),可判斷影響繼電器壽命的失效因素。
聲明:
“基于光電聯(lián)合檢測(cè)技術(shù)的電磁繼電器壽命評(píng)估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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