本發(fā)明公開了一種應(yīng)用于集成電路的測(cè)試探針卡,包括探針座和檢測(cè)電路板,探針座上成型有探針孔,探針孔內(nèi)插接有探針,探針包括中部的止擋部,止擋部的上端面檢測(cè)桿,檢測(cè)桿的上端露出探針座的上端面,其特征在于:止擋部的下端面成型有豎直的外螺紋套,外螺紋套的內(nèi)孔內(nèi)插接有倒置的T型導(dǎo)向桿,T型導(dǎo)向桿上插套有下永磁套,外螺紋套上插套有上永磁套,上永磁套下端面的磁極和下永磁套上端面的磁極相同,T型導(dǎo)向桿內(nèi)插接固定有導(dǎo)電體,導(dǎo)電體由圓柱形的碳刷頭和碳刷柱組成,碳刷頭抵靠在外螺紋套的內(nèi)孔壁上,碳刷柱的下端露出T型導(dǎo)向桿的下端面抵靠在檢測(cè)電路板上。它結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,組裝方便,能避免因彈簧機(jī)械疲勞失效而造成的接觸不良。
聲明:
“應(yīng)用于集成電路的測(cè)試探針卡” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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