本發(fā)明涉及一種快速估算集成電路良率的計算方法,包括:根據(jù)待分析集成電路中電路單元內(nèi)的元件或者關(guān)鍵元件確定輸入的原始參數(shù)變量并正交化,所述參數(shù)變量的個數(shù)Y為對電路特性最敏感的工藝參數(shù)的數(shù)量;由歸一化高斯分布的原始采樣點確定rmax,使其在Y維空間的chi分布的累積分布函數(shù)值等于設(shè)定的采樣精度;在半徑為rmax的超球體內(nèi)獲取均勻分布的M個采樣點;基于M個采樣點計算所述電路單元的失效概率。這種快速估算集成電路良率的計算方法,在失效區(qū)域的搜索上更加準(zhǔn)確可靠,仿真研究結(jié)果表明:在效率,精度和失效區(qū)域搜索上有良好的折中,能快速有效估計數(shù)字電路的良率,大幅提高效率。
聲明:
“快速估算集成電路良率的計算方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)