本發(fā)明一種基于隨機過程的小衛(wèi)星壽命評估方法及系統(tǒng)。首先,本發(fā)明利用FTA分析結(jié)果,確定影響小衛(wèi)星壽命的一階及二階故障割集。其次,利用FMEA分析方法,確定一階及二階割集中的所有故障的類型,對于隨機故障,采用泊松過程數(shù)學模型描述隨機故障過程,對于退化故障,采用維納過程數(shù)學模型描述退化故障過程。根據(jù)小衛(wèi)星產(chǎn)品的實際失效數(shù)據(jù)確定泊松過程數(shù)學模型參數(shù)及維納過程數(shù)學模型參數(shù)。結(jié)合小衛(wèi)星產(chǎn)品的故障模型,利用進程交互仿真方法,對小衛(wèi)星的壽命進行仿真,根據(jù)仿真結(jié)果統(tǒng)計平均值,確定小衛(wèi)星壽命。
聲明:
“基于隨機過程的小衛(wèi)星壽命評估方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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