本發(fā)明公開了一種備份cell替換電路驗證方法、裝置、存儲介質(zhì)和終端,提取備份cell替換電路轉(zhuǎn)換為Verilog代碼,失效cell替換完成后,根據(jù)隨機生成需要進行數(shù)據(jù)配置替換地址進行仿真驗證,判斷仿真結(jié)果成功則再根據(jù)隨機生成需要進行數(shù)據(jù)配置替換地址通過斷言驗證該地址是否在對應(yīng)的時刻產(chǎn)生了替換使能信號,若是則說明備份cell替換電路對待測設(shè)計中失效cell的替換成功,反之替換失??;本方案通過將備份cell替換電路轉(zhuǎn)成Verilog代碼,系統(tǒng)可以自動隨機生成需要進行數(shù)據(jù)配置替換地址,以及對替換情況進行自動檢查,代替人工操作,極大地提高仿真速度;而且系統(tǒng)可以隨機大量生成替換激勵,大大增加驗證覆蓋率。
聲明:
“備份cell替換電路驗證方法、裝置、存儲介質(zhì)和終端” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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