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本發(fā)明公開了一種無損測量電子功能模塊內(nèi)部溫度和熱阻構(gòu)成的方法及裝置,涉及功率電子器件檢測技術(shù)領(lǐng)域。裝置包括熱阻測試儀,加熱和測試探頭和被測模塊。將被測模塊放置在恒溫平臺上,加熱探頭緊貼于被測模塊上表面并保持良好接觸,加熱探頭在工作電源提供的電壓與電流下工作時產(chǎn)生的熱量經(jīng)過被測模塊傳遞到恒溫平臺,然后測量探頭在冷卻過程中電學(xué)溫敏參數(shù)的變化,得到探頭經(jīng)被測模塊到恒溫平臺的熱阻構(gòu)成,進(jìn)而計算得到電子功能模塊的熱阻構(gòu)成。本發(fā)明實現(xiàn)了無損檢測電子功能模塊的熱阻構(gòu)成并根據(jù)表面溫度推算其內(nèi)部溫度,填補(bǔ)了相關(guān)技術(shù)的空缺。
本發(fā)明是一種顆粒增強(qiáng)金屬基復(fù)合材料中增強(qiáng)體含量的無損測量方法,屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明采用水浸自動C掃描檢測技術(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,測量精度高、重復(fù)性好,克服了傳統(tǒng)的接觸法檢測自動化程度低、易受人為因素影響的缺點;可實現(xiàn)被檢對象表面100%檢測,檢測結(jié)果直觀且便于存儲,不但能夠測量出被檢對象上任意位置的增強(qiáng)體含量,還可在二維彩色聲速成像圖上直接觀察到不同區(qū)域的增強(qiáng)體分布均勻性。本發(fā)明采用常規(guī)水浸超聲C掃描檢測系統(tǒng)結(jié)合簡單的數(shù)據(jù)處理即可實現(xiàn)聲速的二維成像,從而測量出增強(qiáng)體含量,不要求檢測系統(tǒng)本身具備聲速成像功能,因而對于檢測設(shè)備要求不高,可操作性好,并且測量速度快,有效降低時間和經(jīng)濟(jì)成本。
一種高溫超導(dǎo)帶材非接觸無損磁測量方法及裝置,其方法為:將超導(dǎo)帶材樣品冷卻到臨界溫度以下;施加一外加磁場使超導(dǎo)帶材被完全穿透;撤掉磁場或?qū)悠窂拇艌鲋幸瞥?讓樣品靜置一段時間分鐘,進(jìn)行剩余磁場的檢測。該測量裝置包括勵磁磁場、磁傳感器、步進(jìn)電機(jī)帶動帶材水平移動的傳動部件、計算機(jī)數(shù)據(jù)采集及控制部件。借助該測量裝置采用本發(fā)明測量方法測量超導(dǎo)體帶材的臨界電流,實現(xiàn)了帶材產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)中在線的連續(xù)檢測。且對測量樣品無損傷,更能準(zhǔn)確全面的反映帶材的本征特性。
一種無損測量行波管熱阻構(gòu)成的方法及裝置,涉及微波真空電子器件檢測技術(shù)領(lǐng)域。所述裝置包括:熱阻測試儀、測試探頭和被測行波管。所述方法包括:將測試探頭放入被測行波管的螺旋線內(nèi),測試二極管在工作電源提供的電壓與電流下工作時產(chǎn)生的熱量經(jīng)傳熱觸頭傳遞到螺旋線,并經(jīng)陶瓷夾持桿、管殼散熱到周圍環(huán)境,采集卡采集到加熱過程中測試二極管的電學(xué)溫敏參數(shù)的變化,并經(jīng)計算得到被測行波管的散熱通道的熱阻構(gòu)成。本發(fā)明實現(xiàn)了非破壞性地測量行波管的熱阻構(gòu)成并定點研究其散熱情況,檢測散熱能力,測量無損傷、周期短、精度高、成本低,較現(xiàn)有技術(shù)有著明顯的突破性。
本發(fā)明提供一種基于冠層成像光譜的茶葉鮮葉質(zhì)量無損監(jiān)測方法及裝置,該方法包括:獲取目標(biāo)區(qū)域的茶葉冠層多通道多光譜圖像;進(jìn)行預(yù)處理后,生成多光譜合成圖像;通過特定植被指數(shù)去除土壤背景,用大律法提取待采鮮葉圖譜;根據(jù)待采鮮葉圖譜提取特征植被指數(shù),將其輸入預(yù)設(shè)的茶葉質(zhì)量檢測模型,得到目標(biāo)區(qū)域的茶葉質(zhì)量指標(biāo)預(yù)測值;其中,茶葉鮮葉質(zhì)量檢測模型,根據(jù)茶葉質(zhì)量指標(biāo)值已知的多光譜合成圖像提取特征植被指數(shù)后,進(jìn)行擬合得到。該方法基于較易獲得的冠層多光譜影像和預(yù)設(shè)的茶葉質(zhì)量檢測模型進(jìn)行質(zhì)量檢測,降低數(shù)據(jù)采集裝置成本,減少數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)大量冗余及無效信息占用,簡化分析過程,加快分析速率,利于推廣應(yīng)用,同時實現(xiàn)無損檢測。
本發(fā)明公開了一種用于SIM卡芯片的無損測量方法,SIM卡芯片置于SIM卡模塊內(nèi)部,該無損測量方法包括以下步驟:S1,將SIM卡模塊放置在超聲掃描顯微鏡的試驗臺上;S2,將超聲掃描顯微鏡開啟正面掃描模式,直接對SIM卡模塊進(jìn)行檢測;S3,將超聲掃描顯微鏡開啟反射掃描模式生成超聲波圖像和波形曲線;S4,對波形曲線進(jìn)行圖形分析;S5,根據(jù)公式計算出SIM卡芯片的厚度值;S6,根據(jù)步驟S5中計算得到的SIM卡芯片的厚度值與規(guī)定的厚度值范圍進(jìn)行比對。本發(fā)明的SIM卡芯片測量方法為無損檢測手段,不會破壞芯片,不影響后續(xù)使用,且簡單易操作、準(zhǔn)確度高、可以大大節(jié)省測量時間和成本,有利于大批量、快速的樣品檢測。
本發(fā)明公開了一種鐵磁鋼中殘余應(yīng)力的無損監(jiān)測系統(tǒng),包括機(jī)械手臂,監(jiān)測探頭,信號接收及數(shù)據(jù)處理模塊、計算機(jī)A和用于控制所述機(jī)械手臂運動的計算機(jī)B。機(jī)械手臂的遠(yuǎn)端設(shè)置有用于夾持監(jiān)測探頭的氣動夾持件,信號接收及數(shù)據(jù)處理模塊通過電路與監(jiān)測探頭和計算機(jī)A分別電連接,信號接收及數(shù)據(jù)處理模塊接收并轉(zhuǎn)換監(jiān)測探頭的監(jiān)測信息,并將監(jiān)測信息傳送到計算機(jī)A上顯示。本發(fā)明公開的監(jiān)測系統(tǒng)可以在不破壞待測鋼的情況下和不影響生產(chǎn)線運作的情況下,完成鐵磁鋼的表面及內(nèi)部殘余應(yīng)力分布的監(jiān)測,同時可以配合其他工藝完成對鋼的應(yīng)力水平的修復(fù)和控制,監(jiān)測系統(tǒng)速度快,精度高,可以大幅提高合格產(chǎn)品的出場速度。
本發(fā)明屬于無損檢測領(lǐng)域,涉及一種超聲波無損測量金屬板材內(nèi)部殘余應(yīng)力場的方法。本發(fā)明提出一種超聲波無損測量金屬薄板內(nèi)部殘余應(yīng)力場的方法,有利于對金屬薄板內(nèi)部殘余應(yīng)力進(jìn)行無損評價。該方法的單次測量時間約20秒,僅為傳統(tǒng)X射線測量殘余應(yīng)力方法單次測量時間的幾十分之一,檢測速度快,同時,該方法的測量深度可以調(diào)節(jié),最大深度能達(dá)到3mm,是X射線法測量深度的幾十倍,因此測量深度大,第三,該方法提供了一種測量板材內(nèi)部大范圍殘余應(yīng)力分布的方法,能夠獲得殘余應(yīng)力分布的三維圖或等高線圖,第四,該方法單次測量的成本僅為X射線法的幾十分之一,具有明顯的經(jīng)濟(jì)性,第五,該方法無放射性,與X射線法相比使用更加安全。
本發(fā)明公開了鐵磁性材料局域應(yīng)力和應(yīng)變場的巴克豪森噪聲無損測量方法與系統(tǒng),利用硬盤磁頭檢測鐵磁性材料周期磁化過程中的巴克豪森噪聲信號,將提取的多項磁參量輸入預(yù)先建立的力?磁參量映射關(guān)系神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型,定量預(yù)測出應(yīng)力或應(yīng)變大?。淮判灸┒丝諝鈿庀缎∮?μm的硬盤磁頭由三軸運動平臺搭載沿被測材料局域范圍掃查,巴克豪森噪聲檢測裝置同步檢測巴克豪森噪聲信號,神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型預(yù)測掃查點的應(yīng)力或應(yīng)變大小,掃查完成后得到材料局域范圍的應(yīng)力場或應(yīng)變場。由此標(biāo)定出鐵磁性材料中巴克豪森噪聲信號與應(yīng)力、應(yīng)變的關(guān)系,對局域應(yīng)力和應(yīng)變場進(jìn)行快速、無損定量檢測。
本實用新型涉及電力設(shè)備的局部放電檢測領(lǐng)域,尤其涉及一種基于全壽命管理的GIS無損監(jiān)測裝置,超聲波局部放電檢測模塊連接超聲波局部放電特征量采集模塊,特高頻局部放電檢測模塊連接特高頻局部放電特征量采集模塊,超聲波局部放電特征量采集模塊和特高頻局部放電特征量采集模塊的輸出端通過電路轉(zhuǎn)換開關(guān)連接數(shù)據(jù)處理模塊,數(shù)據(jù)處理模塊連接顯示模塊。實用新型簡易便攜,集成度高,集合超聲波和特高頻兩種GIS局部放電無損檢測手段,通過一個電路轉(zhuǎn)換開關(guān)實現(xiàn)兩種不同信號檢測、采集模塊共用一套數(shù)據(jù)處理模塊和顯示模塊,減少了電路設(shè)計和制作,綜合分析判斷出GIS的局部放類型和放電點的位置,兩種不同方法相互補(bǔ)充,實現(xiàn)更好的檢測效果。
本發(fā)明涉及一種基于核磁共振技術(shù)無損測定巖土體中水分遷移過程的方法,至少包括以下步驟:利用標(biāo)定用巖土試樣建立核磁共振信號幅度和試樣所處位置以及水含量間的函數(shù)關(guān)系;對土樣進(jìn)行一維入滲實驗和分段測試,記錄入滲時間、入滲水質(zhì)量和不同位置條件下試樣的核磁共振信號量;在合理的范圍內(nèi)假設(shè)所有試樣中水分的質(zhì)量和空間分布的近似解,根據(jù)標(biāo)定模塊所得函數(shù)關(guān)系,計算理論信號量,并與測試模塊中的實測信號量進(jìn)行對比,在誤差允許范圍內(nèi),選擇二者間誤差最小的一組近似解。
本發(fā)明公開一種輕便高光譜地表發(fā)射率無損測定裝置,它由參考板托板、延長臂、配重砣、轉(zhuǎn)動組件、三角支撐架和中央控制系統(tǒng)組成;轉(zhuǎn)動組件由步進(jìn)電機(jī)和旋轉(zhuǎn)臺構(gòu)成,步進(jìn)電機(jī)設(shè)置在旋轉(zhuǎn)臺的一側(cè);轉(zhuǎn)動組件設(shè)置在三角支撐架的上端,轉(zhuǎn)動組件用于帶動延長臂橫向轉(zhuǎn)動;轉(zhuǎn)動組件由中央控制系統(tǒng)進(jìn)行控制,并通過航空插頭與中央控制系統(tǒng)相連接;旋轉(zhuǎn)臺的轉(zhuǎn)動精度為0.1°,轉(zhuǎn)動的角度為360°。優(yōu)化測定方法的步驟為:準(zhǔn)備工作、目標(biāo)地表離地輻亮度測量、參考板的離地輻亮度測量、環(huán)境輻亮度的估算、地表發(fā)射率的迭代優(yōu)化算法:本發(fā)明可以有效配合高光譜熱紅外光譜儀在不破壞目標(biāo)地表的前提下,快速的獲取高精度環(huán)境輻射,測定精度高,使用效果更好。
本申請?zhí)峁┝艘环N基于果徑無損觀測的番茄果實糖分高效預(yù)測改進(jìn)方法:通過拍照獲取的無損連續(xù)觀測果徑數(shù)據(jù)改進(jìn)番茄果實糖模型輸入,從而預(yù)測番茄果實糖分、淀粉動態(tài)累積過程。
本發(fā)明公開了一種無損測試紅外探測器峰值電壓的方法,該方法包括如下步驟:直到萬用表電壓顯示到5±0.5V,記下此時的萬用表及皮安計讀數(shù),分別為第一電壓V1及第一電流I1,根據(jù)第一電壓V1及第一電流I1得出第一電阻R1;當(dāng)萬用表顯示電壓在30V以上時,減小直流電源電壓遞增步長為1V~3V,并不斷記下萬用表的讀數(shù)和皮安計的讀數(shù),根據(jù)萬用表的讀數(shù)和皮安計的讀數(shù)實時得到電阻值R2’;當(dāng)R1/R2’為1.8~2.1時,停止增加直流電源電壓并記下此時的萬用表的讀數(shù)即第二電壓V2和皮安計的讀數(shù)即第二電流I2,得到第二電阻R2;得到紅外探測器的靈敏元薄片的熱阻阻抗Z;得到紅外探測器的靈敏元薄片的峰值電壓VP。本發(fā)明解決了紅外探測器的靈敏元薄片易受損傷的問題。
本發(fā)明提供了一種基于直流電法探測的巷道松動圈范圍無損測試方法及系統(tǒng),該方法通過獲取測試電極采集到的視電阻率,然后計算相鄰測試電極對應(yīng)的視電阻率的梯度,并將遞減趨勢梯度中梯度值位于設(shè)定范圍的梯度確定為目標(biāo)梯度,最后根據(jù)目標(biāo)梯度對應(yīng)的巷道位置確定巷道的松動圈邊界。本發(fā)明通過直流電法獲取視電阻率梯度進(jìn)而確定巷道松動圈范圍,能夠?qū)崿F(xiàn)對巷道松動圈的無損測試,并且提高了測試結(jié)果的可靠性。
本發(fā)明公開了一種無損檔案紙張測量儀和測量檔案紙張含水量和厚度的方法,無損檔案紙張測量儀包括平行相對的測量極板,測量極板在測量時貼合在紙張的表面,測量極板分別電連接于測量電路。本發(fā)明還公開了一種測量檔案紙張含水量和厚度的方法,先采取直流電阻法、脈沖電阻法或交流阻抗法測量紙張的含水量;然后采取電容法測量紙張的厚度,在根據(jù)測量得到的電容值計算紙張厚度時,根據(jù)紙張含水量調(diào)整紙張的介電常數(shù)。本發(fā)明的測量儀和測量方法具有如下有益效果,極板的板狀結(jié)構(gòu)適用于歷史檔案紙張,不會造成任何損害。此外,在同時安裝有電阻和電容極板時,可同時測量被測紙張的厚度和含水量,相對便捷。
一種在MOCVD中測量半導(dǎo)體薄膜雜質(zhì)電離能的無損測量方法,其是通過分析生長過程中薄膜材料光致發(fā)光譜譜峰強(qiáng)度隨溫度變化而變化的光學(xué)特征,計算獲得待測半導(dǎo)體薄膜的雜質(zhì)電離能,該測量方法包括如下步驟:在MOCVD裝置中安裝光致發(fā)光譜測試系統(tǒng);該測試系統(tǒng)測量在不同溫度下測量薄膜材料的光致發(fā)光譜,并標(biāo)定和計算施主?受主峰的譜峰強(qiáng)度;擬合施主?受主峰譜峰強(qiáng)度?溫度關(guān)系實驗數(shù)據(jù),獲得薄膜材料雜質(zhì)電離能,包括施主雜質(zhì)電離能和受主雜質(zhì)電離能;重復(fù)步驟1?3,多次測量待測半導(dǎo)體薄膜雜質(zhì)電離能,采用最小二乘法,計算多次測量后的雜質(zhì)電離能。本發(fā)明是利用無損的光譜解析技術(shù),實現(xiàn)了MOCVD生長過程中對半導(dǎo)體薄膜雜質(zhì)電離能的實時測量,測試過程快速無損、精度高。
一種無損傷脊椎檢查診斷儀,包括:仿生機(jī)械手,用于觸碰患者的脊椎區(qū)域,產(chǎn)生觸碰信息;主機(jī),控制所述仿生機(jī)械手對患者的觸碰,并接受仿生機(jī)械手產(chǎn)生的觸碰信息,并根據(jù)上述觸碰信息產(chǎn)生三維圖像;顯示器接收所述主機(jī)產(chǎn)生的三維圖像,并對所述三維圖像進(jìn)行顯示用于診斷。
一種視頻監(jiān)控設(shè)備無損檢查方法和系統(tǒng),利用多種登錄協(xié)議對設(shè)備進(jìn)行登錄,按照生成的采集腳本采集和解析相關(guān)信息,與已知病毒特征進(jìn)行匹配,判斷待檢設(shè)備是否存在安全風(fēng)險;并通過與同型號設(shè)備信息的批量對比,尋找差異信息,進(jìn)而通過人工判定,找出未知的安全風(fēng)險。本公開支持通過多種協(xié)議方式登錄待檢設(shè)備,提高了檢查作業(yè)的靈活性,并由此能實現(xiàn)對多臺待檢設(shè)備的同時檢查,提高了檢查效率;支持多種腳本語言;對已知病毒和未知病毒進(jìn)行了全覆蓋。
本發(fā)明公開了一種網(wǎng)絡(luò)管理數(shù)據(jù)無損壓縮存儲與檢索的方法與系統(tǒng),應(yīng)用于網(wǎng)絡(luò)管理數(shù)據(jù)的壓縮、檢索、長期保存和還原。所述方法包括以下步驟:讀取原始網(wǎng)管數(shù)據(jù)表,對非頻繁變化屬性值預(yù)先進(jìn)行分組壓縮存儲;對于連續(xù)型屬性值,記錄取值區(qū)間變化的增量而非全量;對于離散屬性值,采用分組存儲進(jìn)行壓縮;對于記錄號集合,采用VLB變長壓縮后的數(shù)據(jù)集合進(jìn)行存儲;根據(jù)預(yù)制的查詢條件,在壓縮的同時進(jìn)行統(tǒng)計、構(gòu)建索引。所述系統(tǒng)由網(wǎng)管數(shù)據(jù)分組去重模塊、網(wǎng)管數(shù)據(jù)屬性壓縮存儲模塊、網(wǎng)管數(shù)據(jù)檢索模塊以及網(wǎng)管壓縮數(shù)據(jù)還原模塊四個部分組成。
本發(fā)明公開了一種微波無損測量果蔬特性的測量裝置及其測量方法。本發(fā)明的測量裝置包括:微波收發(fā)裝置、微波收發(fā)線和收發(fā)探針。本發(fā)明采用微波測量果蔬,微波具有穿透性,能夠穿透果蔬的表面,進(jìn)入果蔬的內(nèi)部,經(jīng)過果蔬的內(nèi)部組織時,微波發(fā)生反射,總的反射波反映了果蔬內(nèi)部的水分和果肉組織的情況。本發(fā)明提出的微波無損測量果蔬特性,解決了目前人民日常生活中由于對果蔬品質(zhì)尤其是水分含量的不確定從而購買到的果蔬不夠理想的情況帶來的困擾,便于人們?nèi)粘I钪袑咂焚|(zhì)的判別和選取。該方法最大的特點是實現(xiàn)了果蔬特性的無損測量,同時操作簡單方便。
本發(fā)明提供一種生鮮畜肉新鮮度的無損測定裝置,包括暗箱、樣品臺、光源單元、圖像采集單元及新鮮度判定單元,所述樣品臺設(shè)置在暗箱內(nèi),暗箱內(nèi)與樣品臺相對的一側(cè)設(shè)置光源單元,與所述光源單元同一側(cè)暗箱壁上設(shè)置有圖像采集單元,所述圖像采集單元與新鮮度判定單元通過數(shù)據(jù)線連接;其中,所述新鮮度判定單元包括圖像處理比對模塊、圖像錄入模塊、圖像顏色特征提取模塊和新鮮度數(shù)據(jù)及等級輸出模塊,圖像錄入模塊、圖像顏色特征提取模塊和新鮮度數(shù)據(jù)及等級輸出模塊均與圖像處理比對模塊連接。本發(fā)明提供的生鮮畜肉新鮮度無損測定裝置,檢測方便智能,與化學(xué)方法相比具有檢測速度快、樣品無損等特點,測定準(zhǔn)確度也能達(dá)到理想效果。
本發(fā)明公開了一種基于超聲無損定量檢出概率的延壽方法,包括以下步驟:S1.構(gòu)建檢出概率分布模型,獲取待測結(jié)構(gòu)的真實缺陷尺寸概率分布;S2.給定材料疲勞裂紋擴(kuò)展模型,并計算待測結(jié)構(gòu)的擴(kuò)展模型參數(shù)聯(lián)合概率分布;S3.通過蒙特卡羅仿真的方式,計算結(jié)構(gòu)的失效概率隨時間變化曲線,結(jié)合許用風(fēng)險,確定結(jié)構(gòu)的可用剩余壽命,作為許用壽命對待測結(jié)構(gòu)進(jìn)行延壽。本發(fā)明能夠在關(guān)鍵結(jié)構(gòu)接近許用壽命后,重新對結(jié)構(gòu)進(jìn)行超聲掃查并對已有缺陷重新定量修正進(jìn)行剩余壽命評估,作為新的許用壽命對其延壽,提高了關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的利用率,并保證了關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定運行。
一種基樁無損檢驗用沖擊力棒涉及一種基樁無損檢測裝置,能驗測出基樁的質(zhì)量和承載力,它由長徑比大于3的金屬棒,不同剛度的棒頭和力傳感器所組成,根據(jù)基樁長徑比、基樁周圍的地質(zhì)條件,選用不同重量、不同長度和不同棒頭的力棒,對基樁頂部沖擊,使樁身和樁土產(chǎn)生振動信號,同時可以傳送出可推算沖擊力的信號,完成了對基樁的加力工作。
本發(fā)明屬于紅外無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種紅外無損檢驗熱波激勵光源的碘鎢燈及其應(yīng)用。本發(fā)明將做為熱波激勵源的碘鎢燈的前表面安裝了磨砂玻璃從而形成了光漫散射罩,本發(fā)明利用磨砂玻璃對于光線的漫散射作用,減少碘鎢燈燈絲輻射的不均勻程度對紅外成像結(jié)果的影響,提高了紅外無損檢測的準(zhǔn)確度和靈敏度。本發(fā)明的紅外無損檢測裝置為熱波激勵模式,對做為熱波激勵源的碘鎢燈加用了磨砂玻璃,使熱波激勵源輻射均勻性增加,提高了紅外無損檢測的準(zhǔn)確度和靈敏度,降低誤檢率和漏檢率,擴(kuò)大了紅外無損檢測適用范圍。
本發(fā)明提供了一種混凝土原位無損氣體滲透率測量裝置及方法,裝置包括:集氣罩,用于粘接在待測混凝土表面,形成封閉的空間;氣體壓力變送器,安裝在所述集氣罩的外表面,用于在所述集氣罩在負(fù)壓狀態(tài)下,采集所述集氣罩內(nèi)的壓力;氣體質(zhì)量流量控制器,安裝在所述集氣罩與真空泵之間的管路上,用于檢測和控制當(dāng)前的氣體流量;真空泵,用于抽出經(jīng)過所述氣體質(zhì)量流量控制器的所述集氣罩內(nèi)的氣體;安裝在所述管路上的多個閥門,用于控制所述管路上的氣體通過;控制器,與所述氣體壓力變送器、所述氣體質(zhì)量流量控制器相連接,通過二者感應(yīng)到的參數(shù),確定所述混凝土的氣體滲透率。本發(fā)明可在負(fù)壓狀態(tài)下測量滲透率,不破壞混凝土表面,測量過程簡單。
本發(fā)明涉及機(jī)電類,特別是涉及一種基于特定波長近紅外光在特定部位人體組織中傳播的衰減程度判斷血糖濃度的儀器或者系統(tǒng),它通過在人體上肢相關(guān)部位照射點光源并采集分析經(jīng)散射后的光的衰減程度來判斷人體血糖水平,并可給出生活作息的規(guī)律、藥物補(bǔ)給時間和劑量以及飲食建議等。
本發(fā)明針對鋁合金板材或簡單結(jié)構(gòu)形狀的鋁合金構(gòu)件因熱處理或其它原因在材料內(nèi)部產(chǎn)生殘余應(yīng)力,采用容易獲得的可工業(yè)化實用的重金屬陽極靶的X射線管輻射,利用布拉格原理和彈性力學(xué)原理,通過無應(yīng)力標(biāo)樣的制備獲得參考原始晶面間距d0,然后通過短波長X射線儀的定位,測出板材或構(gòu)件內(nèi)部所需測試部位材料的晶面間距,經(jīng)計算得到該點的殘余應(yīng)力。通過此方法,可以獲得沿板材不同厚度的X射線衍射譜,測試到相應(yīng)點的殘余應(yīng)力,得到沿厚度方向的應(yīng)力梯度。對于鋁合金材料,測試的板材最大厚度可以在40mm以內(nèi)。應(yīng)力測試的儀器誤差在20Mpa以內(nèi)。
本實用新型屬于檢測樁基礎(chǔ)質(zhì)量的裝置。它是 由傳感器,放大器,低頻濾波器、12比特高分辨率高 速A/D變換器,計算機(jī)、打印機(jī)和磁帶機(jī)所組成。 其特征在于將計算各種參數(shù)的程序固化在計算機(jī)的 EPROM芯片上,使得本裝置具有波形時域的全景 顯示,進(jìn)行數(shù)據(jù)屏幕編輯,光標(biāo)掃描、搜索,直接測量 各反射波到時,相位,特征頻率和幅度,經(jīng)計算機(jī)計算 分析,最后獲得樁體缺陷部位和性狀,以及樁體的垂 直與水平的承載力。它還可與10MHz的高速采集 器相接,因此又可以對金屬和非金屬進(jìn)行探傷。本裝置結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,價格低廉,可以廣泛 作為各建筑工程的測樁設(shè)備。
本實用新型提供一種激光晶體摻雜濃度的檢測裝置,包括激發(fā)單元、信號采集單元、檢測單元和計算單元;其中所述激發(fā)單元產(chǎn)生能夠照射到所述激光晶體并激發(fā)其產(chǎn)生熒光的光;所述信號采集單元用于接收所述熒光并將其入射到所述檢測單元;所述檢測單元與計算單元相連,用于接收來自所述信號采集單元的熒光并測量激光晶體的熒光壽命和熒光光譜圖,然后將該數(shù)據(jù)傳送給計算單元;所述計算單元根據(jù)所接收到的數(shù)據(jù)計算所述激光晶體中激活離子的摻雜濃度。該裝置結(jié)構(gòu)簡單、操作快捷,可廣泛應(yīng)用于檢測多種激光晶體的摻雜濃度。
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