本發(fā)明公開了一種無損測試紅外探測器峰值電壓的方法,該方法包括如下步驟:直到萬用表電壓顯示到5±0.5V,記下此時的萬用表及皮安計(jì)讀數(shù),分別為第一電壓V1及第一電流I1,根據(jù)第一電壓V1及第一電流I1得出第一電阻R1;當(dāng)萬用表顯示電壓在30V以上時,減小直流電源電壓遞增步長為1V~3V,并不斷記下萬用表的讀數(shù)和皮安計(jì)的讀數(shù),根據(jù)萬用表的讀數(shù)和皮安計(jì)的讀數(shù)實(shí)時得到電阻值R2’;當(dāng)R1/R2’為1.8~2.1時,停止增加直流電源電壓并記下此時的萬用表的讀數(shù)即第二電壓V2和皮安計(jì)的讀數(shù)即第二電流I2,得到第二電阻R2;得到紅外探測器的靈敏元薄片的熱阻阻抗Z;得到紅外探測器的靈敏元薄片的峰值電壓VP。本發(fā)明解決了紅外探測器的靈敏元薄片易受損傷的問題。
聲明:
“無損測試紅外探測器峰值電壓的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)