本申請公開了一種三維地質(zhì)表面模型中的插值數(shù)據(jù)處理方法,包括以下步驟:獲取采樣點(diǎn)集合;計(jì)算采樣點(diǎn)集合中采樣點(diǎn)的曲率;將采樣點(diǎn)集合投影到水平面;在水平面生成用于覆蓋采樣點(diǎn)集合的水平面投影的控制點(diǎn)集合;根據(jù)采樣點(diǎn)的曲率計(jì)算控制點(diǎn)集合中控制點(diǎn)的曲率;根據(jù)曲率密度轉(zhuǎn)化模型計(jì)算控制點(diǎn)的插值密度;根據(jù)控制點(diǎn)的插值密度確定插值點(diǎn)集合;其中,插值點(diǎn)根據(jù)控制點(diǎn)的插值密度生成,并且用于對采樣點(diǎn)進(jìn)行補(bǔ)充,插值點(diǎn)根據(jù)控制點(diǎn)的插值密度生成,并且用于對采樣點(diǎn)進(jìn)行補(bǔ)充,從而可以提高生成的面片單元的質(zhì)量,進(jìn)而提高面片單元的規(guī)范性和精度,可以用于地質(zhì)結(jié)構(gòu)的量化研究。
聲明:
“三維地質(zhì)表面模型中的插值數(shù)據(jù)處理方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)