本發(fā)明公開一種用于使用鍶測(cè)量勘探地質(zhì)地層的方法和設(shè)備。使用井下測(cè)井儀測(cè)量地層中的鍶濃度。測(cè)井曲線可以被提供為深度或距離的函數(shù)。鍶測(cè)量可以與地層年代做相關(guān),以提供深度與絕對(duì)時(shí)間的相關(guān)性。在井眼中進(jìn)行的鍶的測(cè)量可以與通過被井眼穿過的地層的地震勘探獲得信息做相關(guān)??梢允箚蝹€(gè)地層的多個(gè)井眼內(nèi)的鍶的測(cè)量做相關(guān)。
聲明:
“用于使用鍶測(cè)量勘探地質(zhì)地層的方法和設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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