本發(fā)明提供了一種基于地質(zhì)勘查的剖面用測量設(shè)備,包括安裝底板,所述安裝底板的上表面安裝有測量儀器,所述安裝底板的下表面均勻分布設(shè)置有三個調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu),每個所述調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)的底部均安裝有第一支撐桿,每個所述第一支撐桿的底部均活動安裝有第二支撐桿,每個所述第二支撐桿的底部均活動安裝有第三支撐桿,每個所述第三支撐桿的底部均安裝有固定底座,所述安裝底板下表面中心處安裝有測量機(jī)構(gòu)。本發(fā)明每個第一支撐桿、第二支撐桿的角度以及第三支撐桿的伸縮長度都可進(jìn)行獨立控制,調(diào)節(jié)過程中控制精度更高,使整個設(shè)備在不同環(huán)境、地形中都能具有較好的支撐作用,更加方便測量設(shè)備的使用,從而使測量數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確。
聲明:
“基于地質(zhì)勘查的剖面用測量設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)