本發(fā)明公開(kāi)了一種焊接式硅
芯片高絕緣臺(tái)面鈍化保護(hù)工藝,包括以下步驟:硅單晶片切割、單晶片磨角、真空燒結(jié)、酸腐蝕、涂敷聚酰亞胺、真空排泡、階梯烘烤、清洗形成鈍化保護(hù)芯片、涂覆GD?406藍(lán)色硅橡膠、真空排泡、室溫硫化化、高溫固化、檢測(cè)、真空包裝出廠(chǎng)。本發(fā)明通過(guò)對(duì)傳統(tǒng)芯片制造工藝的改進(jìn),通過(guò)PI膠的應(yīng)用對(duì)芯片臺(tái)面進(jìn)行鈍化和雙層致密保護(hù),并可有效地俘獲PN結(jié)臺(tái)面可移動(dòng)電荷,降低了芯片的IRRM,提高了芯片抗擊穿能力和綜合電性能,解決了粘附性、熱膨脹、機(jī)械應(yīng)力及氣孔等技術(shù)問(wèn)題,從而得到一種保護(hù)致密、耐高壓、耐溫范圍廣、高性?xún)r(jià)比、高可靠性的高壓功率半導(dǎo)體模塊芯片,有效提高產(chǎn)品的可靠性和良品率,值得推廣和使用。
聲明:
“焊接式硅芯片高絕緣臺(tái)面鈍化保護(hù)工藝” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)