本發(fā)明公開了一種應(yīng)用能量色散X射線熒光分析法測(cè)量石英礦中硅元素含量的方法,屬于
分析檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,主要解決現(xiàn)有技術(shù)在直接檢測(cè)硅元素激發(fā)效率低、結(jié)果精度差及靈敏度不高的問(wèn)題。該方法首先對(duì)市面上石英礦樣品進(jìn)行預(yù)處理及標(biāo)準(zhǔn)樣品、待測(cè)樣品的制備,用能量色散X射線熒光光譜儀對(duì)試樣中的鋅元素進(jìn)行測(cè)量,探測(cè)到鋅元素的特征峰面積,代入定標(biāo)曲線,得到試樣中鋅元素的百分含量。再根據(jù)正硅酸鋅中鋅和硅的化學(xué)數(shù)量關(guān)系,計(jì)算得到石英礦中硅元素的含量。本發(fā)明通過(guò)間接的測(cè)量方法實(shí)現(xiàn)了對(duì)石英礦中硅含量的測(cè)量,具有準(zhǔn)確、便捷、經(jīng)濟(jì)、易操作的特點(diǎn)。
聲明:
“應(yīng)用能量色散X射線熒光分析測(cè)定石英礦中硅含量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)