本發(fā)明屬于礦場地球物理測井解釋成果在生產(chǎn)中的應用技術(shù),具體的說是通過儲層地質(zhì)參數(shù)定量表征技術(shù),簡潔、方便評價儲層品質(zhì),為勘探開發(fā)方案的制定提供技術(shù)支撐。一種儲層品質(zhì)評價方法,方法如下:獲得儲層參數(shù);儲層參數(shù)包括孔隙度、含油飽和度So、膠結(jié)指數(shù)m、飽和度指數(shù)n、泥質(zhì)含量SH、束縛水飽和度Swi;將上述儲層參數(shù)代入至儲層品質(zhì)因子解釋公式得到儲層品質(zhì)因子P;若P≥20,則該對應儲層為Ⅰ類好儲層;若5≤P<20,則該對應儲層為Ⅱ類中等儲層;若P<5,則該對應儲層為Ⅲ類差儲層。本發(fā)明提供了一種計算儲層品質(zhì)因子的計算方法,并通過該儲層品質(zhì)因子對儲層品質(zhì)進行分類評價,克服了單一地質(zhì)參數(shù)評價儲層不全面的問題。
聲明:
“儲層品質(zhì)評價方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)