公開了一種直接在套管內(nèi)采集數(shù)據(jù)、準(zhǔn)確評(píng)價(jià)低礦化度或低孔隙度的油井中地層參數(shù)、在低礦化度或低孔隙度的油井中記錄數(shù)據(jù)量大、誤差范圍小、精度高的TNIS過套管成像儲(chǔ)層流體評(píng)價(jià)方法,包括以下步驟:(1)通過高能中子發(fā)生器向地層發(fā)射快中子;(2)利用長源距探測器和短源距探測器同時(shí)采集從步驟(1)的快中子發(fā)射后產(chǎn)生的多個(gè)時(shí)間間隔的熱中子數(shù);(3)根據(jù)各個(gè)時(shí)間間隔的熱中子數(shù)生成熱中子時(shí)間衰減譜,將其轉(zhuǎn)換成矩陣數(shù)據(jù)記錄下來,進(jìn)而把矩陣數(shù)據(jù)生成成像圖;(4)通過成像圖并根據(jù)油井影響因素與熱中子衰減對(duì)應(yīng)關(guān)系來去除井眼大小、水泥環(huán)、井壁內(nèi)流體三種因素的影響,從而獲得客觀的地層參數(shù);(5)地層參數(shù)輸出到顯示裝置。