本發(fā)明公開(kāi)了一種獨(dú)居石的陰極發(fā)光成像方法，包括：對(duì)獨(dú)居石礦物顆粒進(jìn)行制靶，得到樹(shù)脂靶；對(duì)所述樹(shù)脂靶拋光，使獨(dú)居石露出于所述樹(shù)脂靶；在露出于所述樹(shù)脂靶的獨(dú)居石進(jìn)行鍍膜，將鍍膜面朝上，并用導(dǎo)電膠將鍍膜后的樹(shù)脂靶固定在場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的樣品臺(tái)上，將場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的樣品倉(cāng)抽真空，使所述樹(shù)脂靶處于真空條件下；選擇陰極發(fā)光探頭的工作距離；選擇電子束的加速電壓；選擇電子束的束斑大??；選擇初級(jí)增益值；獲取獨(dú)居石單顆粒的圖像。本發(fā)明對(duì)獨(dú)居石進(jìn)行高分辨陰極發(fā)光發(fā)光成像，解決了獨(dú)居石一直以來(lái)陰極發(fā)光整體黑的問(wèn)題，達(dá)到清晰地反映獨(dú)居石的內(nèi)部結(jié)構(gòu)特征，起到了獨(dú)居石原位微區(qū)定年精準(zhǔn)選點(diǎn)的目的。