本發(fā)明公開了一種地表介質(zhì)物的監(jiān)測方法和裝置。該地表介質(zhì)物的監(jiān)測方法包括：獲取目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；對目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；對目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到目標(biāo)區(qū)域的剖面圖；以及獲取剖面圖中的地表介質(zhì)物數(shù)據(jù)。通過本發(fā)明，達(dá)到了提高礦區(qū)地表介質(zhì)物的監(jiān)測分辨率的效果。