本發(fā)明屬于同位素地質(zhì)年代學(xué)研究技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種基于截距法的數(shù)據(jù)處理控制方法、計(jì)算機(jī)程序,剝蝕信號(hào)二次曲線擬合,取截距;數(shù)值校正的標(biāo)樣初始比值R進(jìn)行線性擬合得到虛擬標(biāo)樣插值R’校正樣品的初始比值r;根據(jù)衰變方程計(jì)算得到t;對(duì)于每個(gè)測(cè)點(diǎn),取相應(yīng)同位素比值的數(shù)據(jù),采用最小二乘法,與時(shí)間進(jìn)行二次曲線擬合,進(jìn)行誤差分析。本發(fā)明的操作界面美觀,操作簡(jiǎn)便,具有更高的精確度和準(zhǔn)確度。本發(fā)明可更好的服務(wù)于地球科學(xué)領(lǐng)域中的同位素地質(zhì)年代學(xué)研究工作。
聲明:
“基于截距法的數(shù)據(jù)處理控制方法、計(jì)算機(jī)程序” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)