一種隨鉆電阻率測(cè)井響應(yīng)偽2.5D模擬方法,包括步驟:建立地層坐標(biāo)系;獲取地質(zhì)體邊界坐標(biāo);確定地質(zhì)體類別的巖石物理參數(shù),從而建成二維地層模型;確定當(dāng)前測(cè)井點(diǎn)坐標(biāo);確定計(jì)算域范圍,并明確計(jì)算域內(nèi)部電性參數(shù)的分布;確定降維窗口;使用降維窗口提取二維地層模型中的地層界面位置以及地層界面斜率來(lái)建立一維模型;每1個(gè)降維窗口對(duì)應(yīng)建立1個(gè)一維模型;分別計(jì)算各一維模型的測(cè)井響應(yīng);對(duì)所有窗口得到的一維模型的電阻率測(cè)井響應(yīng)進(jìn)行加權(quán)平均處理得到偽2.5D計(jì)算結(jié)果,將偽2.5D計(jì)算結(jié)果作為最終的電阻率測(cè)井響應(yīng)結(jié)果并輸出。本發(fā)明有效平衡了對(duì)隨鉆電阻率測(cè)井響應(yīng)速度和精度的需求。
聲明:
“隨鉆電阻率測(cè)井響應(yīng)偽2.5D模擬方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)