本發(fā)明公開了一種基于跡線確定巖體結(jié)構面產(chǎn)狀的方法,屬于巖體測量技術領域,提供新的基于跡線確定巖體結(jié)構面產(chǎn)狀的方法,尤其適用于開挖方向與結(jié)構面走向呈小角度相交的巖體開挖工程。本發(fā)明所述基于跡線確定巖體結(jié)構面產(chǎn)狀的方法,無需使用地質(zhì)羅盤,因此能夠很好地應用于巖體開挖過程中巖體結(jié)構面出露面積小、羅盤無法緊貼結(jié)構面進行測量的情況,同時,本發(fā)明所述的方法也不會受到磁場干擾;因此可獲得準確的結(jié)構面產(chǎn)狀信息。
聲明:
“基于跡線確定巖體結(jié)構面產(chǎn)狀的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)