本發(fā)明公開(kāi)了一種用于神經(jīng)細(xì)胞多參數(shù)檢測(cè)的微電極陣列
芯片及制備方法,涉及傳感器技術(shù),該芯片由絕緣基底、微電極陣列、對(duì)電極、參比電極、電極引線及觸點(diǎn)、表面絕緣層和修飾材料七個(gè)部分構(gòu)成。電極本身采用微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)工藝加工制備,并在其表面定點(diǎn)修飾特定的納米
復(fù)合材料和酶。在經(jīng)過(guò)修飾的工作電極表面培養(yǎng)神經(jīng)細(xì)胞,結(jié)合對(duì)電極與參比電極,可用于同時(shí)實(shí)時(shí)的檢測(cè)神經(jīng)細(xì)胞電生理信號(hào)和多巴胺、乙酰膽堿等神經(jīng)遞質(zhì)的
電化學(xué)信號(hào),并兼有對(duì)神經(jīng)細(xì)胞施加電刺激的功能。本發(fā)明芯片功能集成化,材料修飾定點(diǎn),使用方便,適合實(shí)驗(yàn)室開(kāi)展神經(jīng)細(xì)胞培養(yǎng)及其多種參數(shù)檢測(cè)的相關(guān)研究。
聲明:
“用于神經(jīng)細(xì)胞多參數(shù)檢測(cè)的微電極陣列芯片及制備方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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