本申請實施例公開了一種測試系統(tǒng)的校核裝置,涉及工程地質(zhì)勘察技術(shù)領(lǐng)域,解決了測試系統(tǒng)校核時間長、成本高的問題。該測試系統(tǒng)的校核裝置,包括鉆探設(shè)備、試驗?zāi)K和校核模塊,鉆探設(shè)備用于安裝隨鉆測試系統(tǒng);試驗?zāi)K設(shè)置于鉆探設(shè)備的鉆進方向上,用于模擬鉆探設(shè)備的施工環(huán)境;校核模塊設(shè)置于鉆探設(shè)備或試驗?zāi)K上,用于獲取鉆探設(shè)備的鉆進數(shù)據(jù)。本申請的測試系統(tǒng)的校核裝置用于校核隨鉆測試系統(tǒng)的傳感器。
聲明:
“測試系統(tǒng)的校核裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)