本發(fā)明屬于地質(zhì)樣品分析技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種基于能量色散X射線熒光光譜法測定礦石中的金的方法,光譜儀采用三維幾何結(jié)構(gòu)光路,使用Sc/W靶材;配置15個二次靶;樣品粉碎至74μm(200目),在烘箱中烘干,稱取樣品放于特制模具中,用聚乙烯粉末鑲邊墊底,加壓,制成試樣,放入干燥器中待測;采用樣品為金礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中,梯度適當(dāng)?shù)男?zhǔn)樣品系列制成金元素含量的曲線。本發(fā)明采用實驗樣品為金礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中,選擇國家一級金礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)與部分含金的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)制成金元素含量的曲線,譜線重疊和基體效應(yīng)校正,金的校準(zhǔn)曲線及其線性,方法的檢出限,方法的精密度,方法的準(zhǔn)確度。
聲明:
“基于能量色散X射線熒光光譜法測定礦石中的金的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)