本發(fā)明公開了一種鋰離子
正極材料SEM圖迂曲度提取方法及裝置,通過獲取鋰離子正極材料在不同燒結(jié)溫度下的SEM圖像,對SEM圖像進(jìn)行預(yù)處理,得到二值圖像;對二值圖像進(jìn)行距離變換得到距離變換圖,并將變換得到的距離變換圖與構(gòu)建的多尺度的圓形鄰域?yàn)V波器進(jìn)行差分卷積,得到卷積結(jié)果圖;將卷積結(jié)果圖中的每個像素與預(yù)設(shè)的全局閾值T進(jìn)行比較,提取出二次顆粒的前景標(biāo)記像素;運(yùn)用形態(tài)學(xué)閉運(yùn)算對前景標(biāo)記像素進(jìn)行標(biāo)記,得到前景標(biāo)記圖;利用前景標(biāo)記圖,采用分水嶺算法對預(yù)處理后的SEM圖像進(jìn)行分割,得到最終的分割結(jié)果;利用分割結(jié)果,采用蒙特卡羅方法計(jì)算二次顆粒的面積和迂曲度。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)二次顆粒的精確分割和對產(chǎn)品性能的預(yù)測。
聲明:
“鋰離子正極材料SEM圖迂曲度提取方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)