本申請實施例公開了一種確定地質(zhì)層位的方法及裝置。所述方法提供有目的層段的電阻率反演剖面數(shù)據(jù),其中,所述目的層段包括至少兩個地質(zhì)層位;所述方法包括:獲取所述目的層段中地質(zhì)層位對應(yīng)的電阻率范圍;基于所述地質(zhì)層位對應(yīng)的電阻率范圍,對所述電阻率反演剖面數(shù)據(jù)進(jìn)行顏色映射處理,得到顏色映射處理后的電阻率反演剖面數(shù)據(jù);根據(jù)所述顏色映射處理后的電阻率反演剖面數(shù)據(jù),確定所述地質(zhì)層位的位置。本申請實施例提供的技術(shù)方案,可以提高在電法反演剖面上所確定地質(zhì)層位的準(zhǔn)確度。
聲明:
“確定地質(zhì)層位的方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)