本發(fā)明公開了一種地質結構面產狀測定裝置,所述底座通過鉸鏈與上蓋活動連接,所述上蓋的內部中間位置設有反光鏡,所述反光鏡上設有透視孔,所述底座上設有水平刻度盤,所述水平刻度盤的內部設有磁針,所述磁針的一側設有底盤水準器,所述磁針的另一側設有水準器和刻度指示器,所述水準器的右上方設有激光測距器,所述激光測距器關于底座的中心對稱位置設有磁針螺旋,所述底座的一端設有瞄準覘板。該發(fā)明設計科學合理,對地質結構面產狀測試的可靠性穩(wěn)定,測試的誤差較少,提高了地質結構面產狀測定的精準度,可多次重復操作,攜帶方便易于保存。
聲明:
“地質結構面產狀測定裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)