本申請(qǐng)公開了一種地質(zhì)路線PRB數(shù)據(jù)變距離二次采樣方法,包括:設(shè)置第一次采樣半徑值,初次建模訓(xùn)練采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息,形成初始模型;設(shè)置第二次采樣半徑值,得到擴(kuò)充后的初始采樣點(diǎn);按照標(biāo)簽順序依次輸入初始模型,逐類預(yù)測(cè)各類標(biāo)簽數(shù)據(jù)二次擴(kuò)充后的采樣點(diǎn)類型;將采樣點(diǎn)類型與其對(duì)應(yīng)類別標(biāo)簽進(jìn)行對(duì)比處理,形成第二次采樣后最終擴(kuò)充的采樣點(diǎn)。所述本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是:不僅解決了自動(dòng)對(duì)地質(zhì)路線上確認(rèn)的地質(zhì)填圖單位或巖性進(jìn)行最大化標(biāo)注,為根據(jù)標(biāo)注對(duì)多尺度、多數(shù)據(jù)類型、多專業(yè)數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練數(shù)據(jù)的最大化采集提供了條件,為最優(yōu)揭露了面上不同填圖單位客觀的相互關(guān)系提供了樣本保障,大大提高地質(zhì)圖預(yù)測(cè)模型的精度和預(yù)測(cè)能力。
聲明:
“地質(zhì)路線PRB數(shù)據(jù)變距離二次采樣方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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