本發(fā)明提供一種測試AD性能的方法，其過程如下：1)兩臺矢量信號源、PC機、合路器和被測接收機；將兩臺矢量信號源的輸出端與合路器的輸入端相連，合路器的輸出端與被測接收機相連，被測接收機與PC機相連。2)計算輸入二階互調截點值為IIP₂＝2P_in?P_s(dBm)；3)計算三階互調截點值為4)計算路間隔離度，其公式為：ACI＝P_w0?P_wn(dBm)。本方法可以方便計算AD芯片采集模擬信號的二、三階互調截點、路間隔離度；使得短波超短波等設備便于性能測試；具有結構簡單、使用方便、測試數(shù)據(jù)準確等優(yōu)點。