一種用于微區(qū)腐蝕
電化學(xué)掃描測(cè)試系統(tǒng)的控制箱,屬于電化學(xué)腐蝕技術(shù)領(lǐng)域。所述微區(qū)腐蝕電化學(xué)掃描測(cè)試系統(tǒng)設(shè)于所述控制箱內(nèi)部,且所述微區(qū)腐蝕電化學(xué)掃描測(cè)試系統(tǒng)和所述控制箱均設(shè)于底座上,所述控制箱的至少一個(gè)側(cè)面由透明材料制成;所述底座上還設(shè)有濕度控制設(shè)備,所述濕度控制設(shè)備的輸出端和所述控制箱內(nèi)部連通,所述控制箱內(nèi)部還設(shè)有濕度探測(cè)電極。通過(guò)設(shè)置控制箱,使整個(gè)微區(qū)腐蝕電化學(xué)掃描測(cè)試實(shí)驗(yàn)在較為平穩(wěn)的環(huán)境下進(jìn)行,受到其余環(huán)境因素如空氣流動(dòng)等影響更小;通過(guò)設(shè)置濕度控制設(shè)備和濕度探測(cè)電極,能夠?qū)?shí)驗(yàn)過(guò)程中的濕度進(jìn)行控制,拓展了儀器測(cè)試適用性。
聲明:
“用于微區(qū)腐蝕電化學(xué)掃描測(cè)試系統(tǒng)的控制箱” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)