本發(fā)明提供了一種金屬多晶體晶粒尺寸無(wú)損快速檢測(cè)的方法,屬于X射線檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明是利用二維X射線探測(cè)系統(tǒng)記錄相關(guān)多晶體晶面指數(shù)為不同{hkl}的各種衍射環(huán),對(duì)衍射斑強(qiáng)度和強(qiáng)度的平均值進(jìn)行統(tǒng)計(jì),計(jì)算出金屬多晶體內(nèi)不同晶粒尺寸的衍射強(qiáng)度級(jí)別與對(duì)應(yīng)的衍射峰數(shù)目的分布關(guān)系,衍射斑強(qiáng)度的統(tǒng)計(jì)值I對(duì)應(yīng)著晶粒尺寸的統(tǒng)計(jì)值G,根據(jù)G=a+k·I式的線性關(guān)系和具體材料回歸計(jì)算出的a和k常數(shù),計(jì)算待測(cè)金屬多晶體的晶粒尺寸分布和平均晶粒尺寸。本方法解決了傳統(tǒng)晶粒尺寸檢測(cè)方法有損、費(fèi)時(shí)、離線的問(wèn)題,不僅可以實(shí)現(xiàn)無(wú)損、快速檢測(cè),還可以轉(zhuǎn)化成工業(yè)生產(chǎn)所需的晶粒尺寸在線檢測(cè)新技術(shù)。