本發(fā)明屬于微球結(jié)構(gòu)器件尺寸參數(shù)均勻度的測量技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種無損測量微球直徑均勻度的測量裝置及方法。本發(fā)明的目的是解決微球直徑均勻度的測量和標(biāo)定過程中對微球產(chǎn)生破環(huán)性而無法重復(fù)使用的問題。本發(fā)明包括測試激光器、納米光纖、待測微球和光電探測器,所述測試激光器與納米光纖的輸入端連接,所述納米光纖的輸出端與光電探測器的輸入端連接。本發(fā)明微球接觸納米光纖的過程只是點接觸,對微球透射率及表面特性沒有影響,測量后微球可以繼續(xù)使用,能夠無損測量微球直徑均勻度。
聲明:
“無損測量微球直徑均勻度的測量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)