本申請(qǐng)涉及地質(zhì)勘測(cè)的領(lǐng)域,尤其是涉及一種地質(zhì)勘測(cè)取樣裝置,其包括支架和取樣筒,所述支架上設(shè)置有壓塊和卡接組件,所述卡接組件包括對(duì)稱布置的第一卡板和第二卡板,所述第一卡板和第二卡板之間開設(shè)有卡槽,所述取樣筒能卡接在卡槽內(nèi)且與支架平行。本申請(qǐng)?jiān)谥Ъ苌显O(shè)置卡接組件,卡接組件中間位置設(shè)置有卡槽,取樣筒卡接在卡接組件的卡槽內(nèi),卡接組件上的卡槽可以保證取樣筒保持垂直,取樣筒不會(huì)在被壓入過程中發(fā)生傾斜,使取樣筒取出的樣品更符合勘測(cè)要求,提升了質(zhì)勘測(cè)取樣裝置取樣的準(zhǔn)確性,同時(shí)取樣筒垂直伸入探測(cè)地面,減少了取樣筒與探測(cè)地面的接觸面積,從而減少了連接在壓塊上的電機(jī)功率,使地質(zhì)勘測(cè)取樣裝置更為節(jié)能。
聲明:
“地質(zhì)勘測(cè)取樣裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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