本發(fā)明公開(kāi)了一種燃?xì)廨啓C(jī)葉片探測(cè)區(qū)域自適應(yīng)分割及曝光參數(shù)優(yōu)化方法,首先,根據(jù)葉片的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)確定葉片透照的方向,在數(shù)字射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)上對(duì)葉片進(jìn)行透照定位;然后,由平板探測(cè)器成像區(qū)域的實(shí)際尺寸確定沿葉高方向的分割尺寸,沿葉高方向?qū)θ~片進(jìn)行初步分區(qū);最后,結(jié)合葉片沿透照方向的厚度分布及其對(duì)X射線譜的衰減特性對(duì)葉片的探測(cè)區(qū)域做進(jìn)一步自適應(yīng)分割,并優(yōu)化對(duì)應(yīng)的曝光參數(shù)。在實(shí)際應(yīng)用中借助CAD模型,通過(guò)數(shù)值計(jì)算即可獲得某一型號(hào)葉片的整體透照方案,應(yīng)用本發(fā)明公開(kāi)的方法規(guī)劃葉片的透照方案,可大幅提高數(shù)字檢測(cè)圖像的質(zhì)量,為后續(xù)實(shí)現(xiàn)對(duì)缺陷的精確量化表征提供重要保障。
聲明:
“燃?xì)廨啓C(jī)葉片探測(cè)區(qū)域自適應(yīng)分割及曝光參數(shù)優(yōu)化方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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