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基于懸浮微粒測量電場的方法及裝置

755   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 08:58:31
本發(fā)明公開了一種基于懸浮微粒測量電場的方法及裝置。本發(fā)明將懸浮的微納顆粒帶上一定數(shù)量的電荷,根據(jù)微粒在待測電場中的位移功率譜密度信號(hào)可得到微粒所受電場力,結(jié)合微粒所帶電荷量即可計(jì)算出待測電場強(qiáng)度。本發(fā)明可以在不改變原有懸浮微粒的狀態(tài)下實(shí)現(xiàn)電場探測,借助懸浮諧振子的高靈敏力學(xué)檢測性能,可以在幾赫茲至兆赫茲的寬頻帶范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)電場探測的高靈敏度。通過測量微粒在三個(gè)正交方向上的位移功率譜密度,可以實(shí)現(xiàn)微粒所處位置的矢量電場探測,由于懸浮微粒的尺寸很小,電場探測的空間分辨率可達(dá)百納米級(jí)。因此,本發(fā)明通過懸浮微粒諧振子,提供了一種原位、無損、高探測靈敏度、高空間分辨率的測量矢量電場的方法和裝置。
聲明:
“基于懸浮微粒測量電場的方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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