本發(fā)明公開了一種對物體中的成分及其濃度進行探測的方法，其具體步驟為：1)將待測樣品放置在樣品臺上，由激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀對物體進行非接觸式無損探測；2)探測時，由旋轉(zhuǎn)驅(qū)動裝置驅(qū)動樣品臺作均速圓周運動或者由平移驅(qū)動裝置驅(qū)動樣品臺作均速平移運動；此時，由激光器產(chǎn)生激光，經(jīng)過聚焦透鏡聚焦后、自下而上穿過樣品臺上的激光照射孔對待測樣品進行照射；待測樣品的被測表面在激光的照射下產(chǎn)生等離子火花，等離子火花信號經(jīng)過信號耦合透鏡耦合至光纖光譜儀中，通過分析光纖光譜儀接收到的等離子火花信號就可得到物體中所含的成分及其濃度。本發(fā)明所述對物體中的成分及其濃度進行探測的方法尤其適用于對鍍層、鋁箔等厚度較薄的樣品的探測。