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用于X射線衍射測量的具有針對非理想傳感器行為的校正的多次采樣CMOS傳感器

1037   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 08:58:40
通過一個五步驟處理來降低CMOS有源像素傳感器中的每個像素的讀出噪聲,在該五步驟處理中,在一個傳感器幀時間段期間對來自該傳感器的像素電荷數(shù)據(jù)進行多次無損采樣,且針對增益變化和非線性校正該像素電荷數(shù)據(jù)。然后,估計固定圖案噪聲和暗電流噪聲,且將其從經(jīng)校正的像素電荷數(shù)據(jù)減去。接下來,估計復(fù)位噪聲,且將其從該像素電荷數(shù)據(jù)中減去。在步驟四中,將電荷與時間的關(guān)系的模型函數(shù)擬合到經(jīng)校正的像素電荷數(shù)據(jù)樣本。最后,在幀邊界時間處評估經(jīng)擬合的模型函數(shù)。
聲明:
“用于X射線衍射測量的具有針對非理想傳感器行為的校正的多次采樣CMOS傳感器” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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