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基于探地雷達與波前干擾偏移的樹干內(nèi)部缺陷成像方法

884   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 08:58:48
本發(fā)明公開了基于探地雷達與波前干擾偏移的樹干內(nèi)部缺陷成像方法,涉及林木無損檢測領(lǐng)域。該方法使用探地雷達圍繞樹干發(fā)射電磁波,生成B掃描數(shù)據(jù)作為輸入,然后根據(jù)雷達信號穿透樹干直徑所需時間,估計樹干整體介電常數(shù),并使用易形變且不回彈金屬絲提取樹干輪廓信息并建模。首先對B掃描數(shù)據(jù)進行零點選取、背景去除、時變增益、奇異值分解以及二值化操作,然后對B掃描數(shù)據(jù)的每一條A掃描數(shù)據(jù)在樹干上的測量點進行波前干擾偏移,并將偏移結(jié)果疊加,得到樹干內(nèi)部缺陷的斷層圖像。該方案操作簡單,能夠?qū)崟r獲得測量結(jié)果,對樹干缺陷檢測具有指導(dǎo)作用。
聲明:
“基于探地雷達與波前干擾偏移的樹干內(nèi)部缺陷成像方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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