本發(fā)明提供一種基于太赫茲光譜技術的熱障涂層微孔隙結構特征表征方法,包括:獲取具有不同微孔隙結構特征的熱障涂層試樣的樣本集;利用反射式太赫茲時域光譜系統(tǒng)對熱障涂層試樣的樣本集進行太赫茲特征提取;對熱障涂層試樣分別進行微孔隙結構特征提??;建立支持向量機模型,并采用上述特征對支持向量機模型進行訓練,通過支持向量機模型實現(xiàn)熱障涂層微孔隙結構特征的表征。本發(fā)明采用太赫茲波對熱障涂層進行太赫茲特征提取,易于在線、非接觸、無損傷、非電離、可定量地檢測被測試樣的信號,方法簡便可行;本發(fā)明采用支持向量機模型,對于小樣本數(shù)據(jù)具有很好的回歸能力和泛化能力,且能避免陷入過擬合,適用于各種實際應用。
聲明:
“基于太赫茲光譜技術的熱障涂層微孔隙結構特征表征方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)