本發(fā)明公開了一種基于SOC?ATE定位存儲器失效位的方法及測試系統(tǒng)，包括：生成測試向量；將測試向量轉化成物理波形信號；將物理波形信號輸入至待測
芯片中進行測試；將測試得到的結果(引腳pass?fail信息)以字符形式按行存儲至RAM中；ATE從RAM中讀取各失效向量所指的失效位的數(shù)據(jù)引腳狀態(tài)和相對應的地址引腳狀態(tài)；構造以字符表示的引腳狀態(tài)與以數(shù)值表示的引腳狀態(tài)的對應關系；將各失效位的地址引腳狀態(tài)和數(shù)據(jù)引腳狀態(tài)由字符形式轉換為數(shù)值形式輸出。本發(fā)明在不增加硬件資源的基礎上將基于SOC?ATE的向量模式測試得到的字符數(shù)據(jù)快速轉換為數(shù)值數(shù)據(jù)，方便地對存儲器進行失效定位和失效分析，提高利用SOC?ATE開發(fā)存儲器測試程序的效率。
聲明：
“基于SOC ATE定位存儲器失效位的方法及測試系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
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2025年03月25日 ~ 27日 
