本公開提供了一種失效測試方法、測試裝置、測試設備和可讀存儲介質,涉及
半導體技術領域。其中,失效測試方法包括:向存儲陣列中的存儲單元周期性寫入循環(huán)順序移位的測試數(shù)據(jù),其中,在一個測試周期,針對所述存儲陣列中的激活字線,以指定突發(fā)長度的存儲單元為寫入單位寫入所述測試數(shù)據(jù),直至寫完所述存儲陣列,在下一個測試周期,對所述測試數(shù)據(jù)進行順序移位,并將移位后的所述測試數(shù)據(jù)寫入所述存儲陣列,直至完成失效測試。通過本公開的技術方案,通過以指定突發(fā)長度的存儲單元為寫入單位寫入測試數(shù)據(jù),能夠提升測試效率。
聲明:
“失效測試方法、測試裝置、測試設備和可讀存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)