本發(fā)明提出一種長(zhǎng)壽命光學(xué)薄膜空間環(huán)境作用下失效機(jī)理獲取方法,具體過(guò)程為:利用空間環(huán)境地面模擬設(shè)備對(duì)長(zhǎng)壽命光學(xué)薄膜進(jìn)行單一空間環(huán)境模擬試驗(yàn)和空間綜合環(huán)境模擬試驗(yàn),同時(shí)測(cè)試空間環(huán)境作用前后長(zhǎng)壽命光學(xué)薄膜光學(xué)性能,獲得其空間環(huán)境作用下的光學(xué)性能變化規(guī)律;利用表面分析技術(shù)分析空間環(huán)境作用前后長(zhǎng)壽命光學(xué)薄膜的微觀結(jié)構(gòu),獲取其微觀結(jié)構(gòu)變化規(guī)律;建立長(zhǎng)壽命光學(xué)薄膜空間環(huán)境作用前后的光學(xué)性能變化與微觀結(jié)構(gòu)變化的對(duì)應(yīng)關(guān)系,獲得微觀結(jié)構(gòu)變化對(duì)光學(xué)性能影響,以此為基礎(chǔ)獲得空間環(huán)境作用下長(zhǎng)壽命光學(xué)薄膜失效機(jī)理。為空間光學(xué)薄膜的設(shè)計(jì)生產(chǎn)提供技術(shù)基礎(chǔ)。本發(fā)明獲取的實(shí)效機(jī)理為長(zhǎng)壽命光學(xué)薄膜的設(shè)計(jì)生產(chǎn)提供理論依據(jù)。
聲明:
“長(zhǎng)壽命光學(xué)薄膜空間環(huán)境作用下失效機(jī)理獲取方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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