本發(fā)明提供一種基于失效物理的智能變電站二次系統(tǒng)可靠性評估方法,對繼電器、光耦、光纖和CPU
芯片進(jìn)行失效模式、潛在失效機(jī)理分析;考慮時間?應(yīng)力與器件固有參數(shù)之間的關(guān)系,建立各種失效機(jī)理的失效物理模型,獲得器件在各種失效模式下的失效壽命函數(shù);建立各種失效機(jī)理下失效時間的分布模型,構(gòu)造描述失效時間的概率密度函數(shù);根據(jù)器件失效機(jī)理的概率密度函數(shù)和累計失效分布函數(shù),計算器件該失效機(jī)理的即時失效率;根據(jù)各器件失效率函數(shù),構(gòu)建智能變電站二次系統(tǒng)可靠性模型,評估智能變電站二次系統(tǒng)可靠性;評估結(jié)果將為智能變電站二次設(shè)備的檢修工作提供參考,有利于智能變電站的安全穩(wěn)定運行。
聲明:
“基于失效物理的智能變電站二次系統(tǒng)可靠性評估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)