本發(fā)明屬于采樣器技術(shù)領(lǐng)域,針對現(xiàn)有技術(shù)中對于不同深度的巖層采樣同時困難的問題,提出了一種地質(zhì)勘探用深層巖石取樣裝置,包括外殼,所述外殼內(nèi)設(shè)有上采樣管、中采樣管和下采樣管,上采樣管、中采樣管和下采樣管均為直徑相同的空心圓管,上采樣管、中采樣管和下采樣管的外壁均與外殼的內(nèi)壁螺紋連接,上采樣管、中采樣管和下采樣管之間設(shè)有間隙,外殼在上采樣管和中采樣管之間、中采樣管和下采樣管之間的間隙處均開有排出孔,外殼還設(shè)有限位孔,限位孔與排出孔相對,外殼靠近限位孔一側(cè)設(shè)有控制板,控制板與外殼之間彈性連接,控制板朝向限位孔一側(cè)固設(shè)有限位板;所述限位板能夠伸入限位孔將外殼隔斷,并與外殼內(nèi)壁相抵。
聲明:
“地質(zhì)勘探用深層巖石取樣裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)