本發(fā)明涉及一種真空環(huán)境下的高溫微納米壓痕測試裝置與方法,屬于機(jī)電一體化精密儀器領(lǐng)域。裝置可用于真空環(huán)境,防止高溫環(huán)境造成對壓頭和試樣的氧化,削弱空氣流動(dòng)對試樣加熱的影響,保障試樣加熱溫度穩(wěn)定,進(jìn)而開展對試樣微觀力學(xué)性能的測試分析,獲取材料的硬度、彈性模量、蠕變特性以及力熱耦合作用的特性參數(shù)等,以研究變溫和高溫環(huán)境對材料微觀力學(xué)行為、變形損傷機(jī)制和微觀組織結(jié)構(gòu)演化的影響規(guī)律,指導(dǎo)材料及其制品設(shè)計(jì)制造、壽命預(yù)測和可靠性評估。裝置結(jié)構(gòu)緊湊,測量精度高,應(yīng)用范圍廣,在材料科學(xué)、裝備制造、鋼鐵冶金、國防軍事和航空航天等領(lǐng)域具備廣闊應(yīng)用前景,本發(fā)明的測試方法將豐富材料微觀力學(xué)性能測試的理論與技術(shù)體系。
聲明:
“真空環(huán)境下的高溫微納米壓痕測試裝置與方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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