本發(fā)明涉及一種基于反卷積的雙光路光譜測(cè)量裝置,其特征在于該裝置設(shè)置為雙光路結(jié)構(gòu),一光路由目標(biāo)物鏡、狹縫、準(zhǔn)直鏡、分束鏡、色散元件、第一匯聚鏡頭和第一CCD相機(jī)依次組成,另一光路由分束鏡、第二匯聚鏡頭和CCD相機(jī)依次組成。本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有基于狹縫的光譜儀在弱光下探測(cè)能力受限的關(guān)鍵問(wèn)題,采用一個(gè)更寬的狹縫來(lái)代替,以增加系統(tǒng)的光通過(guò)量,使其在弱光下有更好的探測(cè)能力,并通過(guò)計(jì)算未色散光的原像和色散后光的像的反卷積來(lái)獲取光源光譜。本發(fā)明廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、化工、醫(yī)藥和環(huán)境等領(lǐng)域,特別適用于像生物醫(yī)學(xué)、夜視等弱光場(chǎng)合,應(yīng)用范圍寬廣。
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“基于反卷積的雙光路光譜測(cè)量裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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