本發(fā)明提供一種液位測量方法,用以測量多層熔體中每層熔體的高度。本發(fā)明在傳感器上設(shè)置多個測點(diǎn),獲得被測熔體不同高度區(qū)間的電阻值;基于電阻值與區(qū)間高度之間的關(guān)系,識別出分層熔體界面所在區(qū)間;利用單層熔體的電阻值,推算出分層熔體界面的準(zhǔn)確位置,進(jìn)而計算出每層熔體的高度。本發(fā)明使用多個環(huán)形測點(diǎn)一次性測出分層熔體的分界面高度,以及各層電阻率,簡化了測量過程,提高了測量的效率,適用范圍廣,可用于高溫、腐蝕等介質(zhì)的特殊場合,可以廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金等行業(yè)中。
聲明:
“多層熔體高度的測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)