本發(fā)明公開了高爐渣、轉(zhuǎn)爐渣和真空精煉渣X射線熒光分析漂移校正樣品及其制備方法,屬于冶金材料分析技術(shù)領(lǐng)域。該制備方法包括將爐渣樣品粉粹研磨得顆粒樣品,還包括將顆粒樣品置于高溫爐中,緩慢升溫至1250±10℃,熔融10~20min,得到熔體,再將熔體倒入預(yù)先加熱至200~400℃的模具中,自然冷卻至室溫,得到玻璃狀樣品。本發(fā)明設(shè)計(jì)的制樣方法簡單可行,相比于傳統(tǒng)的粉末壓片法,能夠在較大程度上節(jié)省人力及物力,且制備的漂移校正樣品質(zhì)地均勻,外觀完整,穩(wěn)定性高,使用壽命達(dá)半年以上,顯著提高了高爐渣、真空渣及真空精煉渣的測量過程穩(wěn)定性,大大降低了因樣品變質(zhì)引起的分析波動(dòng),提高產(chǎn)品測定結(jié)果的準(zhǔn)確性。
聲明:
“高爐渣、轉(zhuǎn)爐渣和真空精煉渣X射線熒光分析漂移校正樣品及其制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)