本發(fā)明公開(kāi)了一種基于兩個(gè)光電探測(cè)單元構(gòu)成的波長(zhǎng)探測(cè)器,其包括兩個(gè)呈上下或前后平行放置的以半導(dǎo)體晶片或
鈣鈦礦薄膜作為吸光層的光電探測(cè)單元,當(dāng)光從位于上方或前方的光電探測(cè)單元向下或向后逐層照射波長(zhǎng)探測(cè)器時(shí),兩光電探測(cè)單元的電流比隨被探測(cè)光波長(zhǎng)的增大而規(guī)律變化,從而可根據(jù)電流比識(shí)別被探測(cè)光的波長(zhǎng)。本發(fā)明的波長(zhǎng)探測(cè)器可探測(cè)的波長(zhǎng)范圍從265nm(紫外)?1.6μm(中紅外),具有性質(zhì)穩(wěn)定、可靠性強(qiáng)、響應(yīng)速度快、準(zhǔn)確性和重復(fù)性高等優(yōu)點(diǎn),且制備工藝簡(jiǎn)單、成本低廉。
聲明:
“基于兩個(gè)光電探測(cè)單元構(gòu)成的波長(zhǎng)探測(cè)器” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)