本發(fā)明公開了一種窗掃描熱成像缺陷檢測(cè)和層析成像方法及系統(tǒng)。系統(tǒng)工作時(shí)，熱源和熱像儀以固定速度掃描被檢對(duì)象，熱源對(duì)被檢對(duì)象進(jìn)行加熱，熱像儀記錄被檢對(duì)象表面加熱之后隨時(shí)間變化的溫度信息作為原始數(shù)據(jù)；對(duì)原始數(shù)據(jù)進(jìn)行重構(gòu)，獲得被檢對(duì)象每個(gè)點(diǎn)的溫度變化序列作為檢測(cè)信號(hào)；采用或產(chǎn)生特定信號(hào)作為參考信號(hào)；對(duì)檢測(cè)信號(hào)與參考信號(hào)進(jìn)行時(shí)域、頻域和互相關(guān)等方法處理，提取時(shí)域特征值、頻域特征值、互相關(guān)幅值特征值和互相關(guān)相位特征值等，實(shí)現(xiàn)缺陷檢測(cè)和層析成像。該方法及系統(tǒng)可應(yīng)用于航空航天、新材料、石油化工、核電、鐵路、汽車、特種設(shè)備、機(jī)械、冶金、土木建筑等領(lǐng)域的裝備無(wú)損檢測(cè)、材料表征評(píng)估和產(chǎn)品質(zhì)量控制。